产品应用：

I-V、C-V、RF、mmW测试
纳米级电子器件测试，微机电测试
光电器件测试
芯片线路切割
高功率器件测试

产品特点：

1. 高性比的全功能测试系统。
2. 简洁紧凑的探针台系统，搭配不同的配件便可完成I-V、C-V、RF、mmW测试、Load Pull测试、高功率测试、光电测试、纳米级电子器件测试，微机电测试，失效分析、晶圆级可靠性测试。

产品参数：请联系销售工程以获得完整的产品资料：wilson@perfictlab.com

载物台及基座

载物台：4~8”可选。
X-Y轴移动行程：4~8”，精度：10μm，移动行程根据载物台的尺寸确定。
Z轴细调：13mm，快升：0~6mm（可调）。
R轴粗调角度范围：360°，细调行程范围：±9°。
Y轴快速拖出行程：100mm，便于取放晶圆等样品。
独立真空开关。

探针座放置平台

Z轴细调行程：40mm，快升：350μm。
最多可放置8个CM50探针座。
兼容磁力或真空吸附的探针座底座。
兼容探针卡应用（须配套探针卡夹具）。

显微镜

1. 体视显微镜，光学放大倍数：15X~100X。
2. 金相显微镜，光学放大倍数：20X~2000X。
3. 可配套数字CCD，用于观察（显示器）、拍照、录像等操作。

显微镜基座

1. 体视显微镜：不锈钢支撑杆，可伸缩万向支架。
2. 金相显微镜：龙门支撑机构
X-Y移动行程：50mm*50mm，精度：10μm。
Z轴调焦行程：50mm，精度：1μm。
Z轴气动升降行程：50mm。
Z轴手动粗调行程：50mm。

常用配件

防震台
屏蔽箱
系统整合平台

可升级选项

1. 高温测试载物台——高温下进行测试。
2. RF测试专用载物台（更多载物台升级请查看配件中载物台详情面页）。
3. 电动控制系统——替代手动操作、提升操作效率。
4. 激光切割系统——对芯片线路进行切割修改